DXF 200
DXF 200

High Speed Xenon-pulse Delivery ソースはレーザーより非常に低いコストと少ないメンテナンスで同等の結果を生み出します。

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Discovery Xenon Flash (DXF) ソースモジュールはレーザーより非常に低いコストと少ないメンテナンスで同等の結果を生み出す High Speed Xenon-pulse Delivery ソース (HSXD) を採用しています。当社の設計による反射光学構成はプロプライエタリな波長ガイドによりキセノンフラッシュランプの性能を効果的に活用し、環境モジュール中の検体へデリバリします。DXF は多くの商用レーザーシステムより短いパルス幅 (400 μs ~ 600 μs) を発生させますが、光源からの十分なパワーを検体の面全体に均等に集中させます。この最適化された光学的配置と幅広い光スペクトルによって、直径 25 mm もの大きな検体を、高精度の測定を可能にするために十分なエネルギーで照射することができます。大きい検体を使用すると、不均一性に起因するエラーが減少し、分散されていない混合物の代表的測定が可能になります。

DXF は、よく利用される温度範囲である-150°Cから900°Cまで対応します。研究開発プログラム、および生産管理に適しています。

dxf 200EM-200

DXF-200は室温以下の試験システムです。効率的な液体窒素冷却機構を使用するこのシステムは空気または不活性ガス中において、-150℃から200℃までの範囲で、正確かつ安定した温度制御を提供します。従来のIR検出器は低温で低い感度を示します。この課題を解決するため、DXF-200は低温条件でも高感度測定を可能にするソリッドステート検出装置を採用しています。

  • Unparalleled Accuracy
  • Sensor Technology
  • Standard and Universal

優れた正確度

すべてのDiscovery Flash ソースモジュールはフルタイムのパルスマッピングとレコーディングの機能を備えています。これにより、高精度のパルス形状およびパルス幅修正計算、ならびに非常に正確な決定が可能になります。0.

Discovery Flashデータ分析ソフトウェアは熱損失修正に最新方法を採用しています。有限パルス幅、放射熱損失、非等温ローカルサンプリング条件に基づいて熱拡散を正確に求めるためのもっとも正確な汎用手順としてClark and Taylorメソッドが利用されています。また、20種類以上の分析モデルと修正プログラムがソフトウェアに含まれており、すべての材料タイプで非常に高い精度を実現します。

利用可能なモデル:

• Clark and Taylor • Cowan • Degiovanni • Koski • Least Squares • Logarithmic • Moment • Heckman • Parker

 

センサー技術

Discovery Flash装置は温度の過渡的変化を非常に正確に測定するため、高感度の迅速応答センサーを利用します。環境モジュールの一体型コンポーネントである検出器は向上でサンプルに対して調整され、ユーザーの変更または調整は必要ありません。検出器の種類は環境モジュールの動作温度範囲に応じて選択されます。中程度から高温までは、アンチモン化インジウム (InSb) IR検出器が採用されます。安定した出力と最大限の信頼性を確保するため、IR検出器は液体窒素で冷却されます。

標準・汎用

このフラッシュ手法は広く受け入れられ、ASTM E1461、ASTM E2585、DIN EN821、DIN 30905、ISO 22007-4:2008、ISO 18755:2005に記載されています。TAインスツルメント Discovery Flash装置はすべて、これらの規格を遵守し、研究室の間で容易に比較できる、正確で再現性のある結果を生み出すことについて、信頼できます。