DLF 2800

高功率雷射與先進光學

DLF 2800 提供業界最強大穩定的雷射光源和最高效率的傳輸系統。專利第 1 級釹磷酸鹽玻璃雷射與光纖功率棒系統，內建校準功能，可確保有效產生雷射能量並傳輸到試樣。

• TA 設計和製造的專利雷射
• 相較於最接近的同級系統，傳輸到試樣表面的光脈衝能量多 40%
• 99% 均勻的雷射能量曲線達到絕佳的測量準確度。
• 無雜訊設計 – 雷射和爐膛模組相分隔可消除電磁干擾的影響，確保光學校準的長期穩定性。

雙高溫計溫度讀取

DLF 2800 採用專利雙高溫計設計，確實達到優異的高溫精度和準確度。這項獨特功能也可不斷進行從室溫到 2800°C 的試樣測試。超過 900°C 時，雙色高溫計可進行第二次讀取，以免由於試樣發射率變化、光學視窗劣化或光學路徑對準情況造成不確定性。

2800°C 爐膛

DLF 2800 採用的石墨爐膛可耐受 2800°C 的最大溫度。爐膛的巧妙設計在溫度效能的各個方面均優於同級閃光分析儀器。爐膛運用高品質加熱元件、隔焰室管以及沿其長度可防止熱擾動的多個擋板。最終產生的爐膛能夠達到最穩定一致的加熱效果，在 2800°C 穩定控制試樣。操作 DLF 2800 時，轉盤中的每個試樣絶對可在整個測試時間內達到並維持從環境溫度到 2800°C 的設定溫度。試樣測試可以在靜態或動態大氣中進行，包括真空或惰性氣體吹掃。DLF 2800 能夠進行從室溫到 2800°C 的可重現熱擴散測量。

高精度紅外偵測器與光學

DLF 2800 包含高靈敏度液態氮低溫銦銻 (InSb) 紅外偵測器，在整個溫度範圍可達到最佳訊號雜訊比。內建液態氮保溫真空瓶提供無人操作的 24 小時運作，可延長實驗時間，完全無間斷。此外，偵測器路徑的光學元件可確保對於試樣溫譜圖進行一致且準確的測量。紅外偵測區域涵蓋 90% 以上的試樣表面，因此收集代表性的資料，而不受外界輻射的影響，包括不完善的試樣準備引起的邊緣效應，例如「閃過」。

彈性高效率試樣轉盤

DLF 2800 是市場上唯一標配轉盤的高溫閃光系統，能夠在一次實驗中同時對於最多六個試樣進行高達 2800°C 的實驗。如此的多試樣功能可大幅提升處理量，並避免每次實驗之間不必要的停機時間。此外，這能夠進行最準確的熱容量 (Cp) 測量；採用閃光方法的熱容量測量能夠比較在相同的條件下測試的實際試樣和參考的對照組。藉由多試樣盤，可在相同的熱度和環境條件下連續測量實際試樣和參考的對照組，更快獲得更準確的結果。

轉盤可接受直徑達到 12.7 mm 而且厚度達到 10 mm 的試樣，這個厚度比任何同級高溫閃光儀器可接受的厚度多 50%。可選的托盤和配接器可以適應各種試樣尺寸和形狀，包括圓形和方形。專用試樣架可盛裝液體、粉末、糊狀物、層壓板和薄膜的平面測試器材。

絕佳準確度和可重複性

定義一組測量數據與真實值相近程度的準確度，對於瞭解儀器在已知條件下的運作情況相當重要。右側的數據顯示一個石墨試樣測試到 2800°C 並與參考值比較所得到的結果。數據顯示在整個溫度範圍內的準確度優於 ±3%。